جسور

الملخص — في الآونة الأخيرة، وُجد أن تقنيات Electromagnetic Fault Injection (حقن الأخطاء الكهرومغناطيسية) أو EMFI لها آثار كبيرة على أمان embedded devices (الأجهزة المدمجة). لسوء الحظ، لا يزال هناك نقص في فهم EM fault models (نماذج الأخطاء الكهرومغناطيسية) وcountermeasures (التدابير المضادة) لـ embedded processors (المعالجات المدمجة). لأول مرة، تقترح هذه الورقة extended fault model (نموذج أخطاء موسع) يعتمد على مفهوم critical charge (الشحنة الحرجة) و EMFI backside methodology (منهجية حقن الأخطاء الكهرومغناطيسية عبر المسار غير المباشر) جديدة تعتمد على over-clocking (زيادة تردد التشغيل). تُظهر النتائج أن التوقيت الدقيق لـ EM pulses (النبضات الكهرومغناطيسية) يمكن أن يوفر instruction replacement faults (أخطاء استبدال التعليمات) موثوقة وقابلة للتكرار لبرامج محددة. تم إظهار هجوم على خوارزمية AES يوضح أن EMFI يتطلب في المتوسط أقل من 2^22 نبضة كهرومغناطيسية و5.3 plaintexts (نصوص عادية) لاسترجاع مفتاح AES الكامل. هذا البحث حاسم لضمان أن embedded processors وinstruction set architectures (نظام تعليمات المعالج) الخاصة بها آمنة ومقاومة لـ fault injection attacks (هجمات حقن الأخطاء).